Приглашаем посетить сайт

Физическая энциклопедия. В 5-ти томах
МАЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛОН

МАЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛОН

МАЙКЕЛЬСОНА ЭШЕЛОН - многолучевой интерференц. спектральный прибор высокой разрешающей силы. Представляет собой набор плоскопараллельных стеклянных или кварцевых пластинок одинаковой толщины, поставленных на оптический контакт так, что их концы образуют ступеньки лестницы (рис.). Точность изготовления плоскостей пластинок, их параллельность и толщина должны быть порядка Толщина пластинок

мм, число пластинок N около

Способ образования когерентных пучков в M. э. и его оптич. схема такие же, как у дифракционной решётки.

Ход лучей в прозрачном эшелоне Майкельсона.

Угл. распределение интенсивности в результирующей интерференционной картине в плоскости дисперсии также определяется ппоизведением двух функций: дифракционной - при дифракции на одной ступеньке шириной d и интерференционной функции , определяемой интерференцией N когерентных пучков от всех ступенек M. э.:

где А- амплитуда падающей на M. э. световой волны. Если a - угол падения плоской волны, а b - угол дифракции, отсчитываемый от нормали к ступеньке (рис.), то

- показатель преломления материала пластинок M. э., t - высота (толщина) ступенек; - разность хода между соседними когерентными пучками. Как и в случае дифракц. решётки, направление на интерференц. максимумы определяется из условия , где от - порядок спектра.

В отличие от дифракц. решётки период d в M. э. много больше длины волны l, и потому ширина днфракц. максимума функции (sin u / u)² очень мала, а её лаке, значение совпадает с направлением на высокий порядок функции (sinNv/sinv)².B этом отношении M. э. эквивалентен дифракц. решётке - эшелетту, работающему с концентрацией энергии в высоких порядках спектра. Обычно M. э. используется в условиях нормального падения a = О, а угол b мал.

Для M. э. с N= 30, t = 1 см, n = 1,5, l = 500 HM рабочий порядок спектра т ~10⁴, т. е. очень большой, разрешающая сила велика R ~ 3·10⁵, но область дисперсии очень мала HM, что является существенным недостатком M. э. и требует предварительной высокой степени монохроматизации исследуемого спектра.

Кроме прозрачных M. э. существуют отражательные M. э., у к-рых на ступеньки наносятся отражающие покрытия и работа ведётся в отражённом свете, обычно они применяются в УФ- и ИК-диапазоне. M. э. используются крайне редко из-за трудности их изготовления.

Лит.: Королев F. А., Спектроскопия высокой разрешающей силы, M., 1953; Толанский С., Спектроскопия высокой разрешающей силы, пер. с англ., M., 1955.

В. И. Малышев.